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行业资讯
  • 接触式芯片温度控制系统应用场景:半导体制造与电子设备散热方案

      在半导体产业蓬勃发展与电子设备性能持续升级的背景下,接触式芯片温度控制系统凭借其高精度、高可靠性的特性,成为半导体制造与电子设备散热的关键技术支撑。从芯片生产的精密制程到电子设备的日常运行,该系统在多个场景中发挥着不可替代的作用。  一、半导体制造中的温度精确控制  (一)光刻工艺的温度管理  光刻是半导体制造的核心工艺,其对温度稳定性要求极高。在光刻过程中,接触式芯片温度控制系统通过热电阻传感器实时监测光刻设备的关键部件温度,如曝光光源、掩膜台等。由于光刻胶的化学反应对温度极为敏感,微小的温

  • 接触式芯片温度控制系统技术解析:传感器原理与温控算法优化

      在电子设备小型化、高性能化的发展趋势下,接触式芯片温度控制系统成为保障芯片稳定运行的关键技术。该系统通过传感器实时感知芯片温度,并借助温控算法实现精准调节,避免因过热导致性能下降或硬件损坏。深入解析其核心技术 —— 传感器原理与温控算法优化,有助于提升系统性能,满足现代电子产业对温控的严苛要求。  一、接触式温度传感器工作原理与特性  (一)热电偶传感器  热电偶传感器基于塞贝克效应,由两种不同材质的导体组成闭合回路。当两端存在温差时,回路中会产生热电势,且热电势与温度呈线性关系。在芯片温控系统

  • 热流仪检测ABS复合板:精准测量,保障材料性能

    在工业生产中,ABS复合板因其优异的综合性能被广泛应用。为确保其质量可靠,热流仪检测成为关键环节,通过精准测量,为材料性能保驾护航。  热流仪在检测ABS复合板时,能精准测量其热传导性能。热传导性能是衡量材料在温度变化下热量传递能力的重要指标。ABS复合板在不同工业应用场景中,对热传导的要求各异。例如,在电子设备外壳应用中,需要材料具备良好的隔热性能,防止内部电子元件因过热而损坏;而在一些需要散热的部件中,则希望材料有一定的热传导能力。热流仪通过模拟不同的温度环境,精确测量ABS复合板的热流密度、热阻等参数

  • 晶圆级三温并行测试分选设备(每小时3000片吞吐量)

    一、研发背景:半导体产业的迫切需求半导体行业正处于高速发展阶段,芯片集成度不断提高,功能日益复杂,对晶圆测试的要求也愈发严苛。一方面,芯片在实际应用中需面临高温、常温、低温等不同温度环境,单一温度下的测试无法全面评估芯片性能,传统的分步式三温测试不仅效率低下,多次转移晶圆还容易造成损伤;另一方面,随着 5G、人工智能、物联网等新兴技术的兴起,芯片市场需求激增,传统测试分选设备每小时几百片的吞吐量远不能满足大规模生产的需求。据统计,因测试分选效率不足导致的芯片生产周期延长,使企业成本增加约 15%-20% 。

  • 芯片三温智能分选机​

    芯片三温智能分选机在芯片制造与应用领域,性能稳定、质量可靠的芯片是电子设备正常运行的核心。然而,芯片在高温、常温、低温等不同环境下的性能表现存在差异,这可能导致设备在实际使用中出现故障。芯片三温智能分选机正是为解决这一问题而生,它集成温度控制、性能测试与智能分选功能于一体,通过模拟多种温度环境对芯片进行精准检测和分类,为芯片产业的质量把控提供了关键技术支持,成为推动芯片制造向智能化、精细化发展的重要设备。一、研发背景:芯片质量把控的迫切需求随着 5G 通信、人工智能、物联网等技术的飞速发展,芯片的应

  • 车载芯片三温测试台

    在汽车智能化、电动化的浪潮下,车载芯片已成为汽车的 “神经中枢”,从动力控制到自动驾驶,从信息娱乐到安全监测,芯片的性能与可靠性直接决定着整车的安全性与智能化水平。然而,汽车行驶过程中面临高温、低温、常温等复杂多变的温度环境,对车载芯片的适应性提出了极高要求。车载芯片三温测试台作为专业的测试设备,通过模拟不同温度场景,对芯片进行全方位性能检测,成为保障车载芯片质量、推动汽车产业发展的关键力量。一、车载芯片面临的温度挑战与三温测试台的研发背景汽车的使用场景极为复杂,从热带地区的高温暴晒到寒区的低温严

  • ‌高低温芯片测试一体机

    一、芯片测试的挑战与一体机的研发背景随着芯片集成度不断提高、功能日益复杂,其对工作环境的要求也愈发严苛。在高温环境下,芯片内部的电子迁移速度加快,可能导致电路性能下降、功耗增加,甚至出现热失效;而在低温环境中,芯片材料的物理特性发生变化,如半导体器件的阈值电压漂移、连接材料的脆性增加等,会影响芯片的正常工作。据统计,因未经过严格高低温测试而导致的芯片故障,在产品售后问题中占比高达 20% - 30% ,不仅给企业带来巨大的经济损失,还严重影响品牌声誉。传统的芯片测试方式往往将高低温环境测试与性能检测分开进行

  • 芯片三温测试分选机的技术发展趋势展望

    在半导体行业持续创新发展的浪潮中,芯片三温测试分选机作为保障芯片质量的关键设备,其技术发展趋势备受瞩目。随着各应用领域对芯片性能要求的不断提高,芯片三温测试分选机正朝着更高精度、更高效率、更强智能化的方向迈进。温度控制精度的提升是芯片三温测试分选机技术发展的重要方向之一。在当前的芯片制造工艺中,对芯片在不同温度下的性能一致性要求越来越高。为了满足这一需求,未来的芯片三温测试分选机将采用更加先进的温度控制技术和算法。新型的高精度温度传感器将被广泛应用,这些传感器能够更精确地感知芯片表面的温度变化,

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